影响涂层测厚仪测量的因素
磁性法涂层测厚仪测量涂层厚度受基体金属磁性变化的影响（在实际应用中，低碳钢磁性的变化可认为是轻微的）；
2. 为了避免热处理和冷加工因素的影响，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准；
3. 基体金属的电导率对测量有影响，而基体金属的电导率与其材料成份及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准；
4. 每一种涂层测厚仪都有一个临界厚度，大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响；
5. 对试件表面形状的陡变敏感，因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的；试件的曲率对测量有影响，随着曲率半径的减少明显地增大，涂镀层测厚仪，因此，在弯曲试件的表面上测量也是不可靠的；
6. 探头会使软涂层试件变形，因此在这些试件上测不出可靠的数据；
7. 基体金属和涂层的表面粗糙度对测量有影响。粗糙度增大，影响增大，粗糙表面会引起系统误差和偶然误差，每次测量时，在不同的位置上应增加测量的次数，以克服这种偶然误差。如果基体上基体金属粗糙，还必须在未涂的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点，忠县测厚仪，或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解去除涂层后，再校对仪器的零点；
8. 周围各种电气设备所产生的强磁场，涂层测厚仪，会严重干扰磁性测厚工作；
9. 那些妨碍探头与涂层表面紧密接触的附着物质，必须清除，在测量中，要保持压力恒定，探头与试件表面保持垂直，才能达到的测量。
涂层测厚仪工作原理测厚仪一般采用电磁感应法测量涂层的厚度。将处于工作状态下的测量探头放置于被测部件表面，因此产生一个闭合的磁回路，随着移动探头与铁磁性材料间的距离发生改变，该磁回路将产生不同程度的改变，从而引起磁阻及探头线圈电感的变化。利用这一原理可以地测量探头与铁磁性材料间的距离，该距离即所测的涂层厚度。根据以上测量原理制成的测厚仪一般会分为以下五种类型：（1）磁性测厚法：适用导磁材料上的非导磁层厚度测量。导磁材料一般为：钢、铁、银、镍。此种方法测量结果精度高。磁性（磁阻式和磁力式）覆层厚度测量仪和电涡流式覆层厚度测量仪。（2）涡流测厚法：适用导电金属上的非导电层厚度测量，此种方法较磁性测厚法精度低。（3）超声波测厚法：该类型测厚仪适用于多层涂镀层厚度的测量或者前两种方法都无法测量的场合。但一般价格昂贵、测量精度也不高，覆层测厚仪，目前国外个别厂家有这样的仪器，国内暂时没有投入生产。（4）电解测厚法：不同于以上三种方法，需要破坏涂镀层，属于有损检测。测量方法比前三种麻烦，并且精度也不高。（5）放射测厚法：此方法依据放射源检测，并且仪器价格非常昂贵（一般在 10 万人民币以上），适用于一些特殊环境，各项技术参数要求相对较高，使用范围相对狭窄。目前，国内使用最为普遍的是磁性法和涡流法的测厚仪，测量方法无损伤，既不破坏被测工件覆层也不破坏基材，仪器本身体积小巧，测量范围宽、使用操作简便、适用范围广，并且购置价格相对低廉，检测速度快捷。随着现代科学技术的日益进步，部分机型的测量分辨率可以达到 0.01 微米，准确度等级可达到标称示值的 1%，并且通过配备不同类型测头，可满足多种测量的需要。
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