表面粗糙度轮廓仪光切法
光线通过狭缝后形成的光带投射到被测表面上，轮廓仪参数，以它与被测表面的交线所形成的轮廓曲线来测量表面粗糙度（图3）。由光源射出的光经聚光镜、狭缝、物镜1后，圆度轮廓仪，以45°的倾斜角将狭缝投影到被测表面，形成被测表面的截面轮廓图形，然后通过物镜 2将此图形放大后投射到分划板上。利用测微目镜和读数鼓轮（图中未示）先读出h值，计算后得到H 值。应用此法的表面粗糙度测量工具称为光切显微镜。它适用于测量RZ和Ry为0.8～100微米的表面粗糙度，泰勒轮廓仪，需要人工取点，测量效率低。
表面粗糙度仪的特点
? 大幅提高的驱动速度(X 轴: 80 mm/s，綦江轮廓仪， Z2 轴立柱: 20mm/s) 进一步减少了总的测量时间。
? 为了更长时间地保持直线度，三丰公司采用了抗老化且极耐磨的非常坚固的陶瓷导轨；
? 驱动器 (X 轴) 和立柱 (Z2 轴) 均配备了高精度线形编码器 (其中Z2 轴上为ABS 型)。因此，在垂直方向对小孔连续自动测量、对较难定位部件的重复测量的重复精度得以提高
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